[投稿ページテスト]SXESを用いた定量分析への取り組み ~ 電子プローブマイクロアナライザーとの相違点

軟Ｘ線発光分光器 (SXES) を用いて主に計測する特性Ｘ線は、価電子帯-内殻の遷移に基づく発光スペクトルであることが多いので、材料の化学結合状態によってスペクトル形状が大きく変化し、既存のZAF定量補正法などを用いた定量精度の向上は困難となります。このような特徴を踏まえて、材料の定量分析を実施した場合の留意点や、電子プローブマイクロアナライザーとの相違点、SXESでの実測データの紹介を行います。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

このウェビナーから学べること

• SXESの概要
• SXESを用いた材料の定量分析はどこまで可能か？
• EPMAとSXESの定量分析の特徴、相違点

参加いただきたいお客様

• SXESに興味があるのでSXESを用いた材料分析の特徴を知りたい。
• SXESに限らず、SEM-EDS、EPMAでの定量分析の違いを知りたい。
• SXESを使っているが、材料分析に更に活用したい。

講演者

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